HORIBA 納米顆粒分析儀

以先進(jìn)的技術(shù)簡單而*確地呈現(xiàn)納米粒子尺寸及分散體系的穩(wěn)定性，為您開啟納米科技前進(jìn)之門！

納米技術(shù)的研發(fā)是一個持續(xù)不斷的過程，在分子和原子水平上控制物質(zhì) 以獲得更新、更好、更先進(jìn)的材料和產(chǎn)品。 為了得到效率更高性能更好的產(chǎn)品，并減少能量的消耗，

簡單操作即可對納米顆粒進(jìn)行多參數(shù)分析！

粒徑測量范圍 0.3nm ~ 10μm

SZ-100V2系列采用動態(tài)光散射原理(DLS)測量粒徑大小及分布，實現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測量， 不論濃度是 ppm 級還是高達(dá)百分之幾十，均可準(zhǔn)確測量?？墒褂檬惺蹣悠烦亍y量微量樣品也極 為方便。

Zeta 電位測量范圍 ?500 ~ +500mV

使用 HORIBA *創(chuàng)的微量樣品池，樣品量僅需 100 µL。通過 Zeta 電位值可以預(yù)測及控制分散體系的穩(wěn)定性。 Zeta 電位越高意味著分散體系越穩(wěn)定，對于配方研究工作意義重大。

分子測量范圍 1×103 ~ 2×107

通過測量不同濃度樣品的靜態(tài)散射強度并通過德拜記點法計算分子質(zhì)量 (Mw) 和第二維利系數(shù) (A2)。

SZ-100V2 系列超高的智能化和學(xué)習(xí)能力可以快速為您確定納米粒子的特性！

● SZ-100V2 系列可測量的樣品濃度范圍很廣，所以幾乎無需對樣品進(jìn)行稀釋和其他處理。*的雙光路系統(tǒng) (90°和 173° ) 設(shè)計，既能對高濃度樣品進(jìn)行測量，如 釉漿和顏料，也能測量低濃度樣品，如蛋白質(zhì)和聚合物。

● 將表征納米粒子的三大參數(shù)的測量融于一體：粒子直徑、Zeta 電位和分子量。

● HORIBA 開發(fā)的一次性 Zeta 電位測量樣品池可杜絕樣品污染。超微量樣品池 ( 小容量 100 µL) 簡單易用，且適合分析稀釋的樣品。

● HORIBA 研發(fā)的 Zeta 電位石墨電極，可用于測量強腐蝕性的高鹽樣品。

HORIBA 納米顆粒分析儀